?HAST（Highly Accelerated Stress Test）非飽和高壓加速老化試驗箱是一種專為模擬產品在高溫?高濕?高壓極端環(huán)境下的長期使用狀態(tài)而設計的環(huán)境試驗設備。它通過在密閉容器內產生不飽和蒸汽（相對濕度≤85%），并在0.2–2.0?kg/cm2的壓力下，對樣品進行加速老化，從而在數(shù)百小時內完成傳統(tǒng)85??℃/85?%RH?1000?h壽命試驗的等效驗證。

一、主要技術參數(shù)

1. 溫度范圍：105?℃?-?147??℃，溫度波動≤±0.5?℃；

2. 濕度范圍：65?%?-?100?%RH，波動≤±2.5?%RH；

3. 壓力范圍：0.2?-?2.0?kg/cm2；

4. 升溫時間約50?min，升壓時間約40?min；

二、核心優(yōu)勢

1. 高可靠性：進口耐高溫電磁閥雙路設計、獨立蒸汽發(fā)生室以及多重安全保護（壓力安全閥、過壓、過熱保護），顯著降低故障率并保證試驗安全。

2. 精準可控：觸摸屏配合高精度控制系統(tǒng)，實現(xiàn)溫度、濕度、壓力的實時閉環(huán)調節(jié)，支持一鍵電子門鎖、滑動托盤等人性化操作。

3. 廣泛適用：適用于半導體芯片、IC封裝、液晶顯示、LED、磁性材料、稀土永磁體、航空航天材料以及電子元器件的密封性、耐壓性和壽命評估。

4. 加速效能：在高壓蒸汽環(huán)境下，水分滲透速率大幅提升，可在數(shù)十至數(shù)百小時內完成相當于數(shù)千小時常規(guī)濕熱老化的加速測試，顯著縮短研發(fā)周期。

三、典型應用案例

1. 半導體行業(yè)：對封裝IC進行非飽和蒸汽偏壓壽命測試，符合JESD22?A102E、A110E等國際標準；

2. 新材料研發(fā)：評估稀土永磁體在高溫高濕高壓條件下的磁性能衰減；

3. 電子產品可靠性：檢測多層線路板、LED燈具的防潮防壓性能，確保出貨前的質量合格率。